LW8六氟化硫斷路器的六氟化硫氣體含水量超標(biāo)

LW8六氟化硫斷路器內(nèi)水分嚴(yán)重超標(biāo)將危害絕緣，影響滅弧，并產(chǎn)生有毒物質(zhì)。斷路器含水量較高時(shí)，很容易在絕緣材料表面結(jié)露，造成絕緣下降，嚴(yán)重時(shí)發(fā)生閃絡(luò)擊穿。含水量較高的氣體在電弧作用下被分解，六氟化硫氣體與水分產(chǎn)生多種水解反應(yīng)，產(chǎn)生三氧化鎢、氟化銅等粉末狀絕緣物，其中氟化銅有強(qiáng)烈的吸濕性，附在絕緣表面，使沿面閃絡(luò)電壓下降，氫氟酸、亞硫酸等具有強(qiáng)腐蝕性，對(duì)固體有機(jī)材料和金屬有腐蝕作用，縮短了設(shè)備壽命。水分超標(biāo)有以下幾方面。

(1)新氣水分不合格。處理方法為對(duì)于放置半年以上的氣體，充氣前檢測(cè)新氣含水量應(yīng)不超過(guò)64.88毫升/升。

(2)充氣時(shí)帶入水分。原因是由于工藝不當(dāng)，如充氣時(shí)氣瓶未倒立，管路、接口未干燥，裝配時(shí)暴露在空氣中時(shí)間過(guò)長(zhǎng)等。

(3)絕緣件帶入的水分。原因是在運(yùn)行中，有機(jī)絕緣材料內(nèi)部所含的水分慢慢釋放出來(lái)導(dǎo)致含水量增加。

(4)吸附劑帶入的水分。原因是吸附劑活化處理時(shí)間過(guò)短，安裝時(shí)暴露在空氣的時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。

(5)透過(guò)密封件滲入的水份。原因是大氣中水蒸氣分壓為設(shè)備內(nèi)部的幾十倍甚至幾百倍，在壓差作用下水分滲入。

(6)設(shè)備滲漏。原因是充氣接口、管路接頭、鑄鋁件砂孔等處空氣中的水蒸氣滲透到設(shè)備內(nèi)部，造成微水升高。

當(dāng)LW8六氟化硫斷路器投入運(yùn)行一定時(shí)間后，根據(jù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)程、制造廠家的規(guī)定和運(yùn)行條件以及該LW8六氟化硫斷路器的運(yùn)行狀況，決定其臨時(shí)性檢修、小修及大修的項(xiàng)目和內(nèi)容。目前，LW8六氟化硫斷路器本體的大修，受技術(shù)水平和檢修設(shè)備及現(xiàn)場(chǎng)條件限制，一般委托制造廠家或?qū)I(yè)的檢修單位實(shí)施。條件具備的用戶(hù)，也可以在制造廠家專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員的指導(dǎo)下進(jìn)行大修工作。

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